磨粒(即磨屑)鐵譜分析顯微鏡-鐵譜和表面形貌測(cè)量

　　光干涉法是較好用的靜態(tài)膜厚測(cè)量方法，但也很堆模擬法向接近運(yùn)
動(dòng)。

　　鐵譜技術(shù)和表面形貌測(cè)量

　　鐵譜技術(shù)和表面形貌測(cè)量發(fā)展了摩擦磨損實(shí)驗(yàn)研究。有必要單獨(dú)列
出闡述。

　　鐵譜技術(shù)是將機(jī)器上摩擦副產(chǎn)生的磨粒(即磨屑)從潤(rùn)滑油分離出來(lái)
，  在鐵譜儀上通過一個(gè)有梯度的磁場(chǎng)作用，按粒度大小依序沉淀在玻
璃基片(或沉積管)上，進(jìn)行觀通過輸油導(dǎo)管流過玻璃基片，再引入回油
管流到廢油杯里。玻璃基片與水平面成一很小的傾角，下方是一塊磁鐵
。

　　假定磨粒均勻地懸浮于油樣內(nèi)，當(dāng)油樣在基片上流過時(shí)，磨粒將受
到重力、浮力、流動(dòng)阻力和磁力的作用。

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.cshtwl.com)