光學(xué)顯微鏡測定顆粒試樣的范圍是150至0.8μm
顯 微 鏡
由于用顯微鏡觀察所需試樣量非常少，所以對試樣的代表性要求嚴(yán)
格。因此取樣和制備試樣的方法必須謹(jǐn)慎而且應(yīng)熟知控制準(zhǔn)確性的統(tǒng)計(jì)
因素。
近年來顯微鏡法有很多進(jìn)展，出現(xiàn)了大量文獻(xiàn)和新式儀器，有許多
儀器是類似的。選擇較合適的顯微鏡測定方法與在許多可用的測定顆粒
大小的方法中選擇較合適的一種是同樣困難的。有一些指標(biāo)：如被測物
的大小范圍，費(fèi)用，需要分析的數(shù)量和頻次等，可以有助于擇定某種顯
微鏡測定法。希望對本章讀者在進(jìn)行明智的選擇并進(jìn)行準(zhǔn)確而有意義的
分析有所裨益。光學(xué)顯微鏡
光學(xué)顯微鏡測定范圍；150至0.8μm，大于150μm者可用簡單放大
鏡觀察，小于0．8μm者必須用電子顯微鏡觀察
光學(xué)顯微鏡較大的限制在于焦距過短，放大100倍時(shí)焦距約10微米
，而放大1000倍時(shí)焦距約0.5微米�？捎梅瓷涔庋芯看笥诩s5微米的顆粒
，對小于5弘m者只能用可看到黑影的透光顯微鏡。由于光的衍射作用，
在顯微鏡中看到的影象邊緣變得昵糊了。
