直接測量層表面特征表面粗糙度或波紋度顯微鏡
預(yù)浸潰層的表面特征
在建立層間緊密接觸模型時，一個重要參數(shù)是由預(yù)浸料寬度方
向上絲束高度的變化導(dǎo)致的表面粗糙度或波紋度。因此，預(yù)浸料表
面粗糙度的表征非常重要。影響預(yù)浸料表面粗糙度的參數(shù)包括纖維
類型、絲束尺寸、基體樹脂和預(yù)浸料的生產(chǎn)方法。緊密接觸測量
測量復(fù)合材料凝固過程總體質(zhì)量較常用的兩項技術(shù)是光學(xué)顯微
技術(shù)和透射c一掃描技術(shù)。這兩項技術(shù)都很適合于用來測量層界面
間的緊密接觸程度。
光學(xué)顯微照片。由于通過該技術(shù)可以直接測量層界面，所以這
種方法的準(zhǔn)確程度很高。但是，復(fù)合層壓材料必須切成小試樣，而
且每個小試樣都必須封裝并仔細(xì)拋光。此外9高倍放大時，每張顯
微照片只涵蓋了幾微米長的層間界面。因此，該過程十分耗時，所
以其所測量的試樣的實際數(shù)量有限。為了減少測試緊密接觸程度時
的工作量，可以把顯微照片數(shù)字化，并用圖像分析軟件來測量層界
面間的空隙含量(不完全接觸區(qū)域)。
超聲C一掃描技術(shù)是確定復(fù)合材料微結(jié)構(gòu)缺陷較常用的無損方
法。透射C一掃描技術(shù)很容易實現(xiàn)，而且可以在數(shù)分鐘內(nèi)對大面積
的復(fù)合材料進(jìn)行掃描。但該技術(shù)不能揭示缺陷的類型。因此，通過
C一掃描無法確定缺陷是由層界面間的不完全接觸造成的，還是復(fù)
合材料微結(jié)構(gòu)中其他類型的缺陷。
測量多層復(fù)合層壓材料緊密接觸較有效的方法是，首先使用C
一掃描或其他無損方法來確定板條中缺陷的位置。然后含有缺陷的
板條的截面用光學(xué)顯微鏡來檢查，再測量層間界面得到完全接觸
程度。
相分離行為
PEI與熱固性單體或部分已固化的熱固性樹脂的混溶性可通過
濁點測量進(jìn)行分析。濁點由光學(xué)顯微鏡的透射光強(qiáng)度變化的起點確
定。為了在冷卻過程中保持熱平衡，濁點測量時采用0．2℃／min
的慢冷卻速率。SEM用來研究給定PEI含量共混物的相分離機(jī)理。將
樣品在不同時間間隔下從150℃的固化箱中取出，立即淬冷，放于
液氮中淬斷。電子顯微鏡照片可顯示在固化過程中的顆粒的發(fā)展。
相形態(tài)
用SEM觀察不同固化溫度和組成的固化樣品的較終形態(tài)。在SEM
測量前，將在液氮中脆斷的后固化樣品的斷裂面用氯甲烷刻蝕。
