再結(jié)晶檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)渦流檢測(cè)技術(shù),金相顯微鏡
無(wú)損檢測(cè)
目前國(guó)內(nèi)對(duì)定向凝固葉片工程應(yīng)用過(guò)程中再結(jié)晶的檢查是在大
修時(shí)去掉滲層后進(jìn)行，且檢查方法主要是通過(guò)金相法，而這種方法
存在難以克服的弊端，一方面對(duì)工程應(yīng)用而言速度太慢，另外若對(duì)
葉片不進(jìn)行破壞，則只能得到表面再結(jié)晶的范圍，而對(duì)葉片在厚度
方向的再結(jié)晶深度無(wú)從可知。與金相法相比，無(wú)損檢測(cè)方法具有非
破壞性、速度快、可以測(cè)量深度等特點(diǎn)，對(duì)于定向凝固與單晶高溫
合金的再結(jié)晶評(píng)定，是一種理想的工程應(yīng)用方法，具有很好的應(yīng)用
前景。
在眾多的無(wú)損檢測(cè)方法中，超聲和渦流檢測(cè)技術(shù)是有望解決再
結(jié)晶檢測(cè)難題的兩種重要方法，盡管存在的技術(shù)難度也很大。
首先分析一下再結(jié)晶層的超聲檢測(cè)，其難度主要有以下兩方面
：①再結(jié)晶層本身厚度�。ㄎ⒚琢考�(jí)），應(yīng)用于基體材料中的很多
檢測(cè)原理和方法不再適用；②再結(jié)晶層與基體之間的聲阻抗差異不
大，給特征參量的提取帶來(lái)很大難度。
要解決該問(wèn)題，首先要能識(shí)別再結(jié)晶區(qū)的存在。由于再結(jié)晶區(qū)
的組織結(jié)構(gòu)、彈性模量與未發(fā)生再結(jié)晶的區(qū)域有較大的差異，可能
在兩者界面上產(chǎn)生超聲波的反射，從而可利用反射信號(hào)識(shí)別再結(jié)晶
層并測(cè)量其厚度；同時(shí)，兩者晶粒尺寸與組織結(jié)構(gòu)的差異也可能引
起超聲散射信號(hào)的差異，通過(guò)信號(hào)處理識(shí)別再結(jié)晶層的存在。在可
識(shí)別再結(jié)晶層的情況下，一方面要根據(jù)基體和再結(jié)晶層組織結(jié)構(gòu)特
點(diǎn)合理制訂檢測(cè)工藝，得到準(zhǔn)確波形；另一方面，要研究如何進(jìn)行
信號(hào)分析和特征值提取，這兩點(diǎn)是再結(jié)晶層超聲無(wú)損檢測(cè)的關(guān)鍵所
在。檢測(cè)方法的確定主要考慮如何獲得準(zhǔn)確的超聲回波信號(hào)。對(duì)于
具有再結(jié)晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號(hào)比較復(fù)雜，不同界
面的多次回波互相交錯(cuò)，甚至疊加，帶來(lái)波形識(shí)別上的困難。為此
，首先應(yīng)保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設(shè)法獲得聲束寬度
很細(xì)的脈沖信號(hào)；其次，通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置控制探頭的移動(dòng)范圍和精度
，以便改變聲束焦點(diǎn)的位置，獲得不同深度、不同位置處的精確回
波。另外，應(yīng)充分估計(jì)到多層介質(zhì)中聲波干涉效應(yīng)的影響，準(zhǔn)確識(shí)
別波形。
