高分辨電子顯微鏡高效研究鑄鐵石墨的微觀(guān)結(jié)構(gòu)
掃描電鏡研究
采用掃描電鏡主要是研究鑄鐵中石墨的形態(tài)及其表面特征。
在把石墨制備成掃描電鏡樣品時(shí)， 以往約工作常采用深腐蝕
、離子轟擊或熱氧腐蝕外理。這些處理方法可能對(duì)試樣有不同程度
的損傷。
為了獲得石墨的原始形貌， 作者在制備石墨的掃描電鏡樣品
時(shí)， 采用了非水電解液電溶鑄鐵基體的方法，
掃描電鏡的樣品分兩種， 一種是把石墨從鑄鐵中完全萃取出
來(lái)， 然后重新放置在同一平面上進(jìn)行掃描屯鏡研究。另一種是把
鑄鐵磨成金相樣后，再用非水溶液電溶法使原來(lái)處于金相面以下的
石墨顯露出來(lái)， 石墨附著在基體的原來(lái)位置， 這種方法可以觀(guān)
察到石墨在鑄鐵中的存在狀態(tài)、3．透射電鏡及高分辨電鏡研究石
墨的微觀(guān)結(jié)構(gòu)
為了用透射電子顯微鏡和高分辨電子顯微鏡高效地研究鑄鐵
中幾種典型石墨的微觀(guān)結(jié)構(gòu)， 實(shí)驗(yàn)中采用了一種把石墨制備成薄
膜的特殊方法。從石墨中切取薄膜的步驟是：
(1)用非水溶液電解法把鑄鐵試樣中的石墨完全萃取出來(lái)；
(2)將萃取出來(lái)的石墨單層地鑲置在金屬銅中；
(3)用磨拋金相樣的方法分別從單層石墨的兩面進(jìn)行磨拋，
較后得到微米數(shù)量級(jí)的石墨薄膜；
(4)用離子減薄儀將微米數(shù)量級(jí)的薄膜減薄至納夫數(shù)量級(jí)：
