通過光學(xué)顯微鏡研究細胞學(xué)端�；ㄊ帕�
電子顯微鏡也用來解釋端粒定位的各個方面。然而直到較近，
原位雜交技術(shù)在電鏡(electron microscope，EM)方面才得到應(yīng)用
。這種方法僅限于減數(shù)分裂前期的研究，此時聯(lián)會復(fù)合體已擴展到
整個染色體臂，因此可以檢測到染色體末端(見下文)。在缺乏上述
結(jié)構(gòu)時，在間期核電鏡照片中，不可能識別出端粒的存在。
盡管已經(jīng)應(yīng)用了各種方法，但對于間期核內(nèi)端粒組構(gòu)的調(diào)控規(guī)
律的確定仍處于早期階段。雖然大量證據(jù)常�；ハ嗝�，但已觀察
到端粒表現(xiàn)出的特殊行為；在某些細胞類型中，它們在細胞核呈極
化狀態(tài)，通常局限在核邊緣，并且成對地或以其他排列方式成簇排
列
大量的細胞學(xué)研究結(jié)果表明減數(shù)分裂過程中端粒的定位和行為
與在體細胞中所觀察的不同。在本節(jié)，我們搜集了現(xiàn)存的有關(guān)減數(shù)
分裂端粒組構(gòu)的資料。減數(shù)分裂端粒的細胞學(xué)資料通常并非出現(xiàn)在
端粒組構(gòu)的研究中，而光學(xué)和電子顯微鏡研究所得到的相關(guān)資料則
很多。
在通過光學(xué)顯微鏡研究來確定花束排列的確切時間時，很明顯
會出現(xiàn)許多困難。其中很大一部分是因為缺乏用以區(qū)別前期I各亞
期細胞質(zhì)或細胞核的獨立的發(fā)育標(biāo)記。另外，亞期的精確判定經(jīng)常
很復(fù)雜，這是由于一個亞期到下一個亞期的變化是細微的，而且常
規(guī)實驗技術(shù)如酸和乙醇固定及壓片等可導(dǎo)致細胞學(xué)細節(jié)的丟失。盡
管有這些限制，但還是清楚地證實了偶線期短暫重疊的花束期，只
是其準(zhǔn)確的起始和終止點尚未被很好地確定。應(yīng)用系列電子顯微鏡
切片進行三維重建
