錠型偏析在橫向低倍試片不同工件鑄件分析顯微鏡
疏松分為分布整個(gè)斷面的一般疏松以及分布中心部附近的中心疏松
。疏松在高靈敏度探傷時(shí)可以發(fā)現(xiàn)。
偏析分為錠型偏析和點(diǎn)狀偏析兩類，錠型偏析在橫向低倍試片上表
現(xiàn)為沿錠型形狀分布的深色區(qū)域，一般常為方框形，因此也稱方框形偏
析。點(diǎn)狀偏析多呈暗灰色的點(diǎn)，有時(shí)這些點(diǎn)較基體金屬凹陷，它又分為
均勻分布的一般點(diǎn)狀偏析和只分布在邊緣的邊緣點(diǎn)狀偏析兩類。
晶粒粗大多發(fā)生在大型鍛件中，由于加熱溫度過高或保溫時(shí)間過長(zhǎng)
，奧氏體過于粗化，從而使轉(zhuǎn)變以后沿晶界析出大塊或長(zhǎng)條鐵素體和使
鐵素體晶粒粗化。有些工件雖然不大，但有過熱或者過燒組織時(shí)也會(huì)產(chǎn)
生粗大晶粒。某些鋼在常溫時(shí)具有奧氏體組織，未經(jīng)變形時(shí)也具有較粗
的晶粒組織。
此外，從不同工件出現(xiàn)缺陷類型來講，出現(xiàn)在鑄件中的缺陷有：縮
孔、夾渣、蜂窩狀缺陷、氣孔、砂眼、熱裂紋、冷裂紋、冷隔、縮松、
疏松等。出現(xiàn)在鍛件中的缺陷有：白點(diǎn)、夾渣、裂紋(內(nèi)裂紋、軸心晶
間裂紋、鍛造裂紋)縮孔殘余、夾層、疏松(一般疏松、中心疏松)、偏
析(錠型偏析、點(diǎn)狀偏析)等。焊縫中出現(xiàn)的缺陷有：氣孔、夾渣、裂紋
、未焊透等。
概括起來，各種缺陷的幾何形態(tài)與分布規(guī)律以及它們所經(jīng)過的熱加
工工序?qū)τ诔暡ㄌ絺ㄐ杂泻苤匾囊饬x，應(yīng)作較全面的了解。
波形與低倍組織的對(duì)應(yīng)關(guān)系
超聲波探傷儀除了能提供缺陷的當(dāng)量大小以外，還能提供缺陷的空
間分布，這一點(diǎn)對(duì)我們定性探傷十分重要，因?yàn)樵谝话闱闆r下低倍組織
上的缺陷與該處的波形互相對(duì)應(yīng)。
