金屬磨損顆粒光譜分析-聚合物顆粒大小和形狀
光譜分析和原子吸收光譜測(cè)定可以為組織中是否存在金屬顆粒
提供半定量和定量證據(jù)，但是不能顯示出這些顆粒的確切取向。為
了識(shí)別出組織中的個(gè)別金屬顆粒，明確其與細(xì)胞和組織結(jié)構(gòu)之問(wèn)的
形態(tài)關(guān)系，需要使用電子束顯微檢測(cè)，必要時(shí)，還需使用電子衍射
分析法。
分析法不但可以識(shí)別出金屬磨損顆粒，還能夠把紅細(xì)胞(如大
量存在于血鐵黃蛋白中者)與鐵區(qū)分開(kāi)來(lái)。與金屬顆粒不一樣，血
鐵黃蛋白中的鐵元素可以通過(guò)染色法與組織中的其他沉淀物區(qū)別開(kāi)
來(lái)。
在尋找人工關(guān)節(jié)周?chē)M織中的金屬沉淀物質(zhì)時(shí)，需要明確到底
是哪種情況：合金只是由于機(jī)械動(dòng)作產(chǎn)生磨損顆粒，還是存在腐蝕
物質(zhì)。通過(guò)比較組織空隙和合金中的元素分布情況，就可以確定到
底是屬于哪一種情況。另外，也可通過(guò)X射線(xiàn)衍射分析法來(lái)測(cè)定金
屬“點(diǎn)陣間距”，從而做出區(qū)分。這種方法只能區(qū)別CoCrMo鑄造合
金和CoNiCrMo精煉合金，而不能區(qū)別FeCrNiMo合金和CoNi—CrMo精
煉合金。這些合金腐蝕生成物必須具有晶體結(jié)構(gòu)才能產(chǎn)生X射線(xiàn)衍
射線(xiàn)。
高分子聚合物
高分子聚合物被廣泛應(yīng)用于應(yīng)用在內(nèi)植物之中：超高分子量聚乙
烯、聚縮醛和聚酯。另外，PTFE(特弗隆)和PMMA由于磨損率較高，
已經(jīng)停止使用。雖然，可能仍然存在一些含有此類(lèi)物質(zhì)的關(guān)節(jié)植入
體，但其患不足慮。
現(xiàn)在，內(nèi)植物中使用的聚合物不受組織標(biāo)本準(zhǔn)備過(guò)程中使用的
溶劑的影響。所以，無(wú)論是石蠟切片還是冷凍切片，此類(lèi)聚合物中
的磨損物仍然停留在切片中。另外，聚合物不受化學(xué)制劑的影響，
所以無(wú)法通過(guò)常用的染色法來(lái)著色。
在光學(xué)顯微鏡下，聚合物顆粒一般是無(wú)色的，普通白光下呈透
明狀，所以無(wú)法看見(jiàn)，或能見(jiàn)度極低。但是，當(dāng)利用十字偏光片在
偏光下觀察時(shí)，由于它們具有很強(qiáng)的雙折射特性，所以可以看見(jiàn)。
有時(shí)，較大的聚合物顆粒顯現(xiàn)出不規(guī)則的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，這可能跟彎曲
或折疊有關(guān)，但這種結(jié)構(gòu)可能與晶體結(jié)構(gòu)內(nèi)的接觸面相對(duì)應(yīng)。
組織中的聚合物顆粒的大小和形狀可能千差萬(wàn)別。
(1)聚乙烯：小顆粒呈粒狀或橢圓板狀，大顆粒呈長(zhǎng)針狀、線(xiàn)
狀、裂片狀或邊緣不一的板狀。據(jù)統(tǒng)計(jì)，大多數(shù)顆粒大小約為0．5
～50μm之間。50～lOOμm之間的顆粒很少見(jiàn)。
(2)聚酯：此類(lèi)磨損顆粒呈長(zhǎng)針狀、曲線(xiàn)狀、粒狀或?qū)捑�(xiàn)狀。
大小從0．5～20μm不等，有的達(dá)lOOμm，這是較大的邊緣長(zhǎng)度。
(3)聚縮醛：聚縮醛磨損顆粒的形狀和大小與聚酯磨損顆粒相
似。
