鍍膜前抽取樣本來檢驗(yàn)是否有劃痕檢測顯微鏡
生產(chǎn)過程檢驗(yàn)點(diǎn)
檢驗(yàn)是為了確保加_[好的成品符合所有技術(shù)參數(shù)的要
求，同樣也是為了盡量減少缺陷對工作進(jìn)度和車間產(chǎn)量的影
響。
問題往往出現(xiàn)在加工后期。發(fā)現(xiàn)得越晚，成本投入和進(jìn)
度影響就會(huì)越大。雖然檢驗(yàn)不會(huì)增加產(chǎn)品價(jià)值．但完善規(guī)劃
可以節(jié)省大量的時(shí)問和成本。
生產(chǎn)過程檢驗(yàn)的目的是為了及早采取糾正措施，減少成
本投入．確保足夠的產(chǎn)量，并盡早對上級工序部門提出警告。
而不僅僅是找出每一個(gè)殘次品。檢驗(yàn)成本應(yīng)該與漏檢缺陷
所導(dǎo)致的間接損失成本相等，包括機(jī)會(huì)、聲譽(yù)、材料、返工等。
百萬分之幾的指標(biāo)在傳統(tǒng)光學(xué)元件生產(chǎn)中是沒有意義的。
例如．訂單要求生產(chǎn)78個(gè)元件．這里有100個(gè)加工好
的，在鍍膜前抽取10個(gè)樣本來檢驗(yàn)是否有劃痕，這個(gè)做法的
可信度是極高的．在此時(shí)檢驗(yàn)更多元件的意義不大。在鍍膜
之后進(jìn)行的100％全面檢查中，任何一個(gè)帶劃痕的元件都會(huì)
被剔除。這里所說的劃痕是微米量級的磨損�，F(xiàn)在我們的
做法應(yīng)該是，立即告訴上級工序相關(guān)工人，在更多產(chǎn)品被損
壞之前將尺寸限制在微米量級，但仍然認(rèn)為鍍膜盤合格。
如果10個(gè)樣本中有3個(gè)帶有劃痕或面形很差．那么整
個(gè)鍍膜盤會(huì)原封不動(dòng)地重新放回機(jī)器修整．重復(fù)相關(guān)操作。
早期檢驗(yàn)會(huì)更加簡單有效，檢驗(yàn)的最佳時(shí)間應(yīng)該是尺寸
或角度剛剛形成的時(shí)候，因?yàn)榈玫揭粋�(gè)整片的干涉圖要比
100個(gè)小切片的干涉圖快很多。同樣．測量棱鏡條的角度要
比測量每一個(gè)單棱鏡快很多。在薄片被切割之前更容易調(diào)
整和糾正楔度。
