光學(xué)顯微鏡和電鏡觀察花粉粒結(jié)構(gòu)和壁層厚度
在觀察過(guò)程中遇到的問(wèn)題及假象
使用掃描電鏡，通常難以區(qū)分小范圍的形態(tài)特征和非有機(jī)質(zhì)及粘附在
有機(jī)結(jié)構(gòu)上的物體。潛在的無(wú)機(jī)物的假象可能包括殘留在揭片上的礦物質(zhì)
，以及酸蝕刻時(shí)沉積的粉末狀方解石。使用透射電鏡，在高倍鏡下對(duì)細(xì)胞
壁小碎片的確認(rèn)和定位是一個(gè)難題。標(biāo)準(zhǔn)蝕刻或深度蝕刻將會(huì)導(dǎo)致困難進(jìn)
一步加大，主要是由于細(xì)胞壁疏松并很容易破碎，或起泡而毀壞。此外，
在揭片中，礦物質(zhì)會(huì)弄鈍刀口，這樣有礙超薄切片。
詳細(xì)的高分辨率的觀察對(duì)標(biāo)準(zhǔn)揭片技術(shù)提出了許多問(wèn)題。實(shí)施的實(shí)驗(yàn)
方案進(jìn)入了一種兩難的境地。通常，我們想盡可能從有機(jī)細(xì)胞壁上除去礦
物質(zhì)，但是用酸進(jìn)一步處理又會(huì)毀壞細(xì)胞壁。正在消失的揭片技術(shù)提供了
：(”一種對(duì)細(xì)胞壁損害最小的蝕刻標(biāo)本的方法；(2)用一種溶劑支持蝕刻
的細(xì)胞壁，去掉所有的醋酸膜，并一起去掉牢固的礦物質(zhì)和粉末狀沉淀等
；(3)用一種方法固定標(biāo)本作光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡觀察，和／或進(jìn)一步包
埋，放到特制的支架上，作透射電鏡觀察。
斜面可能會(huì)出現(xiàn)對(duì)花粉粒結(jié)構(gòu)和壁層厚度的不準(zhǔn)確結(jié)果，特別是壓型
花粉粒，故切片的準(zhǔn)確定位特別重要。有一個(gè)恰當(dāng)?shù)睦诱f(shuō)明了這一點(diǎn)
。內(nèi)網(wǎng)是具真氣囊花粉粒的氣囊內(nèi)壁延伸一小段距離而形成的。雖然原氣
囊花粉粒表面可能具有與真氣囊型花粉相似性特征，但是這些氣囊含有從
氣囊內(nèi)壁一直延伸到氣囊本體外表面的細(xì)線。在一個(gè)穿過(guò)內(nèi)網(wǎng)的斜切片上
，有可能將真氣囊花粉粒誤認(rèn)為原氣囊型的花粉粒(Osborn&Taylor，1993)
。上述兩種顆粒的識(shí)別，有利于解釋花粉壁的形成，甚至氣囊的演化，同
時(shí)是系統(tǒng)發(fā)育重建中一個(gè)潛在的重要特征。
